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Advances In Metrology And Measurement Of Engineering Surfaces : Select Proceedings Of Icfmmp 2019, De Chander Prakash. Editorial Springer Verlag, Singapore, Tapa Dura En Inglés
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Lo que tenés que saber de este producto
- Tapa del libro: Dura
- Edad mínima recomendada: 0 años.
- ISBN: 09789811551505.
Características del producto
Características principales
Título del libro | Advances in Metrology and Measurement of Engineering Surfaces : Select Proceedings of ICFMMP 2019 |
|---|---|
Autor | Chander Prakash |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer Verlag, Singapore |
Tapa del libro | Dura |
Otros
Con realidad aumentada | No |
|---|---|
Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
ISBN | 09789811551505 |
Descripción
Aviso legal
• Edad mínima recomendada: 0 años.
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