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Atomic Scale Characterization And First-principles Studies Of Si3n4 Interfaces, De Weronika Walkosz. Springer Theses, Vol. 1. Editorial Springer Verlag New York Inc, Tapa Dura En Inglés
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Atomic Scale Characterization And First-principles Studies Of Si3n4 Interfaces, De Weronika Walkosz. Springer Theses, Vol. 1. Editorial Springer Verlag New York Inc, Tapa Dura En Inglés

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Tapa del libro:Dura

  • Volumen del libro: 1
  • Género: Académico.
  • Subgénero: Tecnología y ingeniería.
  • Edad mínima recomendada: 0 años.
  • Peso: 318g.
  • ISBN: 09781441978165.
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