Delay Fault Testing For Vlsi Circuits, De Angela Krstic. Editorial Springer, Tapa Dura En Inglés, 1998
Lo que tenés que saber de este producto
- Año de publicación: 1998
- Tapa del libro: Dura
- Libro.
- Número de páginas: 191.
- Dimensiones: 155 mm de ancho x 235 mm de alto.
- Peso: 476 g.
- ISBN: 09780792382959.
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Características del producto
Características principales
Título del libro | Delay Fault Testing for VLSI Circuits |
---|---|
Autor | Angela Krstic |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer |
Tapa del libro | Dura |
Año de publicación | 1998 |
Otras características
Cantidad de páginas | 191 |
---|---|
Altura | 235 mm |
Ancho | 155 mm |
Peso | 476 g |
Con realidad aumentada | No |
Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
Edad máxima recomendada | 100 años |
ISBN | 09780792382959 |
Descripción
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• Edad recomendada: de 0 años a 100 años.
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