Linear Models For Optimal Test Design, De Wim J. Van Der Linden. Editorial Springer Verlag New York Inc, Tapa Blanda En Inglés

Descripción

Linear Models For Optimal Test Design" es una obra imprescindible del renombrado autor Wim J. van der Linden, presentada por la prestigiosa editorial Springer Verlag New York Inc. Este libro en inglés, con una accesible tapa blanda, es una herramienta valiosa para profesionales y académicos interesados en la estadística y la psicometría. El texto explora detalladamente cómo los modelos lineales pueden ser aplicados para mejorar la eficacia y precisión del diseño de pruebas educativas y evaluaciones psicológicas. Adecuado para lectores de todas las edades, desde estudiantes hasta expertos centenarios en el campo, este libro no requiere de tecnologías como la realidad aumentada para transmitir su rico contenido. Con "Linear Models for Optimal Test Design", los lectores se sumergirán en un análisis profundo y riguroso, ideal para aquellos que buscan profundizar su comprensión y habilidades en la creación de evaluaciones óptimas.

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