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Microelectronic Reliability: Reliability, Test And Diagnostics V. 1, De Edward B. Hakim. Editorial Artech House Publishers, Tapa Dura En Inglés
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Lo que tenés que saber de este producto
- Tapa del libro: Dura
- Edad mínima recomendada: 0 años.
- Peso: 771g.
- ISBN: 09780890062845.
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Características del producto
Características principales
Título del libro | Microelectronic Reliability: Reliability, Test and Diagnostics v. 1 |
|---|---|
Autor | Edward B. Hakim |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Artech House Publishers |
Tapa del libro | Dura |
Otros
Peso | 771 g |
|---|---|
Con realidad aumentada | No |
Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
ISBN | 09780890062845 |
Descripción
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• Edad mínima recomendada: 0 años.
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