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Risk Methodologies For Technological Legacies, De James G. Droppo. Nato Science Series, Vol. 1. Editorial Springer-verlag New York Inc., Tapa Blanda En Inglés
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Lo que tenés que saber de este producto
- Volumen del libro: 1
- Tapa del libro: Blanda
- Género: Académico.
- Subgénero: Tecnología y ingeniería.
- Edad mínima recomendada: 0 años.
- Peso: 626g.
- ISBN: 09781402012587.
- Dimensiones: 16cm de ancho x 24cm de alto.
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Características del producto
Características principales
Título del libro | Risk Methodologies for Technological Legacies |
|---|---|
Serie | NATO Science Series |
Autor | James G. Droppo |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer-Verlag New York Inc. |
Es kit | No |
Tapa del libro | Blanda |
Volumen del libro | 1 |
Otros
Altura | 24 cm |
|---|---|
Ancho | 16 cm |
Peso | 626 g |
Con páginas para colorear | No |
Con realidad aumentada | No |
Género del libro | Académico |
Subgéneros del libro | Tecnología y ingeniería |
Tipo de narración | Libro |
Con cierre | No |
Edad mínima recomendada | 0 años |
Escrito en imprenta mayúscula | No |
ISBN | 09781402012587 |
Descripción
Aviso legal
• Edad mínima recomendada: 0 años.
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